普賽斯大功率半導體激光參數(shù)測試設備是專為解決千瓦級大功率半導體激光器芯片及泵浦激光器模塊需要使用窄脈沖大電流測試和老化、芯片發(fā)熱嚴重等問題而創(chuàng)新開發(fā)推出的一套通用性好、大功率、循環(huán)水冷的老化測試系統(tǒng)。產(chǎn)品具有大電流窄脈沖恒流特性好、電流穩(wěn)定、抗干擾能力強，并具有防過沖、防反沖、抗浪涌的穩(wěn)壓及恒流的雙重保護電路等功能，為大功率半導體激光器芯片及泵浦激光器模塊的老化測試提供了一個完整的解決方案

器件裝載使用抽屜式結構，設備可以靈活擴展最高至4層結構，每層設計若干路，每路支持1-16只激光器的串聯(lián)老化。  普賽斯多路大功率激光器老化系統(tǒng)采用全新開發(fā)、自主設計的大電流脈沖恒流源，可以完美兼容CW模式以及QCW模式，支持直流恒流、直流掃描、脈沖直流、脈沖掃描等四種模式。該系統(tǒng)包括高溫環(huán)境控制裝置、直流或脈沖驅(qū)動電源、收光裝置、光纖、光譜儀（選配）、循環(huán)水冷系統(tǒng)、定制夾具、溫度采集器及上位機等。實現(xiàn)上位機程序進行自動測試，自動采集半導體激光器驅(qū)動電流、激光器電壓、激光器光功率、環(huán)境溫度。實現(xiàn)多單元、高效率、自動監(jiān)控并記錄上傳測試數(shù)據(jù)的一體化測試系統(tǒng)。

產(chǎn)品特點

單抽屜最多支持16路8抽屜；

各通道互相獨立；

電流回讀，同步自動測量電壓、光功率等數(shù)據(jù)；

加熱膜加熱，溫控范圍：室溫～125℃；

電源抗浪涌設計；

收光裝置水冷；

絕對精度±1℃，不同DUT溫度均勻性±2℃；

老化數(shù)據(jù)自動記錄與數(shù)據(jù)導出；

技術參數(shù)

產(chǎn)品型號：LDBIxx系列

尺寸（寬*高*深）：1093mm*2070mm*905mm

重量：＜500kg

系統(tǒng)電源：三相   380V/50Hz,防浪涌

工作模式：CW及QCW

脈沖寬度：100us～3ms

電壓測量：0-100V

電壓測量通道數(shù)：16通道

光電流測量：0-10mA

光電流檢測通道數(shù)：1路，可支持16路分時復用

大功率半導體激光參數(shù)測試設備應用

大功率LED的LIV測試及產(chǎn)線批量老化

大功率激光器的LIV測試及產(chǎn)線批量老化

大功率半導體激光器芯片及泵浦激光器模塊的穩(wěn)定性及可靠性測試

武漢普賽斯為大功率半導體激光器的老化測試提供了一個完整的解決方案。欲了解更多系統(tǒng)方案詳情，請咨詢陶女士一八一四零六六三四七六